本公司此次将重点推出半导体集成电路封测产线快检专用设备——YTS 500超声扫描显微镜。该产品的展出，吹响了思为仪器重磅入局半导体封测产业的号角，也是我们助力“中国芯”的起点。

     此产品针对半导体集成电路封测产线线快检，对塑料分层、粘片空洞、焊接缺陷分析，全面检测能力、同步扫描技术、速度倍增；

系统特性

l 整机尺寸：800mm×600mm×1300mm

l 水槽尺寸：380mm×240mm×110mm

l ******扫描范围：手动：260mm×100mm×50mm； 自动：260mm×25mm×50mm

l 典型扫描耗时：≤45s（测试条件：扫描区域10mm×10mm，分辨率50um）

l ******扫描速度：300mm/s

l 图像推荐分辨率：1～4000um

l 厚度检测范围：根据客户工件的材料和厚度选配。

l 定位精度：X/Y≤±1μm，Z≤±10μm

l 重复定位精度：X/Y≤±0.01mm，Z≤±0.02mm

客户装机现场